Eisterer M., Scheuerlein C., Lackner F., Baumgartner T., Koettig T., Ebermann P., Daly M., Behnsen J., Terricabras A.G.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires multifilamentary, fabrication, RRP process, mechanical properties, transverse stress, degradation studies, magnetization, transport currents, deformation, crack formation, microstructure, stress distribution, resistive transition, critical caracteristics, critical current, pressure dependence, current-voltage characteristics, n-value, critical current density, critical temperature, upper critical fields, experimental results, numerical analysis
Scheuerlein C., Schoerling D., Lackner F., Wolf F., Schladitz K., Richter S., Ebermann P., Kelly U.M., Redenbach C., Meinel D.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, sample shapes, homogeneity, Rutherford cables, deformation, X-ray tomography, aspect ratios, distribution, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.